OLED面板用外观缺陷检测系统及其检测方法与流程

背景技术：

OLED是指有源矩阵有机发光二极体或主动矩阵有机发光二极体。被称为下一代显示技术。OLED的基础是有机物发光体，成千上万个只能发出红、绿或蓝色这三者颜色之中的一种的光源被以一种特定的形式安放在屏幕的基板上，这些发光体在被施加电压的时候会发出红、绿或者蓝色，电压的变换同样需要依靠TFT，在调节三原色的比例之后，才能发出各种颜色。其在正式投入使用或被组装成成品前，都需要对其外观进行缺陷的检测，现有的检测设备价格高昂，在OLED越来越产业化的现有，检测无法得以很好的推广实现。

技术实现要素：

本发明提供了一种OLED面板用外观缺陷检测系统及其检测方法。

本发明的目的通过以下技术方案来实现：

OLED面板用外观缺陷检测单元的检测系统，其特征在于：包括OLED面板用外观缺陷检测单元，及与所述OLED面板用外观缺陷检测单元通过电性连接的PC，所述PC的第二控制端与待检测OLED面板电性连接，所述OLED面板用外观缺陷检测单元，包括图像采集机构，所述图像采集机构的正下方设置有用于检测的OLED面板样品，所述图像采集机构的下方依次设置有光源反射机构及暗光源出光机构，所述光源反射机构设置于所述图像采集机构采集端两侧，所述暗光源出光机构设置于所述光源反射机构的外侧，所述图像采集机构与所述光源反射机构之间还设置有一第二图像采集机构，所述第二图像采集机构的采集端设置有一半透半反射机构，所述半透半反射机构设置于所述图像采集机构的正下方。